NanoYield是概倫電子自主研發(fā)的全集成良率導(dǎo)向設(shè)計(jì)平臺(tái)。
基于概倫獨(dú)特的統(tǒng)計(jì)模型技術(shù)和high-sigma統(tǒng)計(jì)分析算法而打造。
(資料圖片)
通過(guò)高效精準(zhǔn)的統(tǒng)計(jì)算法和并行加速技術(shù)對(duì)統(tǒng)計(jì)電路仿真的性能進(jìn)行無(wú)損精度的加速，對(duì)各種類型的電路包括存儲(chǔ)器/數(shù)字電路/模擬電路等進(jìn)行良率分析和設(shè)計(jì)優(yōu)化。
含有友好的電路設(shè)計(jì)分析環(huán)境，通過(guò)強(qiáng)大的圖形化界面幫助用戶在較短的時(shí)間內(nèi)評(píng)估良率并可根據(jù)設(shè)計(jì)目標(biāo)進(jìn)行電路優(yōu)化。
提高芯片設(shè)計(jì)的一次成功率，優(yōu)化芯片性能、提升良率從而提升產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力。
產(chǎn)品亮點(diǎn)
全集成
內(nèi)置SPICE引擎和高效精準(zhǔn)的統(tǒng)計(jì)算法
高性能
支持快速 PVT/ 蒙特卡羅/ 高西格瑪分析功能
全并行
支持單機(jī)多核/服務(wù)器集群/公有云的并行加速
硅精準(zhǔn)
經(jīng)40/28/14/7/5nm工藝節(jié)點(diǎn)驗(yàn)證
超經(jīng)濟(jì)
并行仿真授權(quán)模式，經(jīng)濟(jì)高效
易使用
友好的圖形界面方便查看和處理良率分析結(jié)果
產(chǎn)品應(yīng)用
存儲(chǔ)器單元和陣列
良率預(yù)測(cè)和優(yōu)化
模擬/數(shù)字電路
良率預(yù)測(cè)和優(yōu)化
代工廠/IDM公司
SRAM良率提升
快速PVT應(yīng)用于
需大量工藝角仿真電路
關(guān)鍵詞：
